题号 | 题目 | 提交时间 | 状态 | 运行时间 | 占用内存 | 使用语言 | 题解 |
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VL26 |
含有无关项的序列检测
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2023-08-28
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL26 |
含有无关项的序列检测
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2023-08-28
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL26 |
含有无关项的序列检测
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2023-08-28
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL25 |
输入序列连续的序列检测
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2023-08-28
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL27 |
不重叠序列检测
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2023-08-12
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL26 |
含有无关项的序列检测
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2023-08-12
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL26 |
含有无关项的序列检测
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2023-08-12
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL26 |
含有无关项的序列检测
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2023-08-12
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL25 |
输入序列连续的序列检测
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2023-08-12
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL25 |
输入序列连续的序列检测
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2023-08-12
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL28 |
输入序列不连续的序列检测
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2023-04-12
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL26 |
含有无关项的序列检测
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2023-04-12
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL25 |
输入序列连续的序列检测
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2023-04-12
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL30 |
数据串转并电路
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2023-02-28
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL27 |
不重叠序列检测
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2023-02-27
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL27 |
不重叠序列检测
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2023-02-27
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL27 |
不重叠序列检测
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2023-02-27
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL27 |
不重叠序列检测
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2023-02-27
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL26 |
含有无关项的序列检测
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2023-02-27
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL26 |
含有无关项的序列检测
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2023-02-27
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答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog |
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