题号 | 题目 | 提交时间 | 状态 | 运行时间 | 占用内存 | 使用语言 | 题解 |
---|
VL31 |
数据累加输出
|
2023-01-24
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL30 |
数据串转并电路
|
2023-01-22
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL30 |
数据串转并电路
|
2023-01-22
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL28 |
输入序列不连续的序列检测
|
2023-01-18
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL28 |
输入序列不连续的序列检测
|
2023-01-18
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL27 |
不重叠序列检测
|
2023-01-17
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL27 |
不重叠序列检测
|
2023-01-17
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL27 |
不重叠序列检测
|
2023-01-17
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL27 |
不重叠序列检测
|
2023-01-16
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL26 |
含有无关项的序列检测
|
2023-01-11
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL25 |
输入序列连续的序列检测
|
2023-01-10
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL25 |
输入序列连续的序列检测
|
2023-01-10
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL25 |
输入序列连续的序列检测
|
2023-01-10
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL25 |
输入序列连续的序列检测
|
2023-01-10
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL25 |
输入序列连续的序列检测
|
2023-01-09
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL24 |
边沿检测
|
2023-01-08
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL24 |
边沿检测
|
2023-01-08
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL24 |
边沿检测
|
2023-01-08
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL24 |
边沿检测
|
2023-01-08
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog | |
VL24 |
边沿检测
|
2023-01-08
|
答案正确
| < 1ms | 0K | Verilog |
关注他的用户也关注了: