芯碁微电子测试工程师春招一面

题目描述 某个产品当前迭代周期内有N个特性（F1, F2, ..., FN）需要进行覆盖测试，每个特性都被评估了对应的优先级，特性使用其ID作为下标进行标识。 设计了M个测试用例（T1, T2,...,TM），每个用例对应了一个覆盖特性的集合，测试用例使用其ID作为下标进行标识，测试用例的优先级定义为其覆盖的特性的优先级之和。 在开展测试之前，需要制定测试用例的执行顺序，规则为：优先级大的用例先执行，如果存在优先级相同的用例，用例ID小的先执行。 输入描述 第一行输入为N和M，N表示特性的数量，M表示测试用例的数量。 之后N行表示特性ID=1到特性ID=N的优先级。 再接下来M行表示测试用例I...