芯片测试 思维题

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
思路 题目告诉我们超过一半是好的， 我们只需要看每个芯片，别的芯片对他的检测，如果0比1多那他肯定是坏的。

#include<iostream>
#include<bits/stdc++.h>
using namespace std;
	int a[30][30];//我以后一定开全局变量，20分被扣了
		bool st[30];
			int n; int main()
{
   
	cin>>n;	
	for(int i=1;i<=n;i++)
	for(int j=1;j<=n;j++)
	{
   
	cin>>a[i][j];
	}
	for(int j=1;j<=n;j++)
	{
   
		int ct=0;
		for(int i=1;i<=n;i++)
		{
   
			if(a[i][j]==0&&i!=j) 
			ct++;
		}
		if(ct>=(n+1)/2)	st[j]=1;//如果超过半数	 1 0 0 0 1 1
	}
		for(int i=1;i<=n;i++)
		if(!st[i])
		cout << i << " ";
	
	return 0;	
}